DDR信号质量的测试方法、测试装置与测试设备

基本信息

申请号 CN202111603654.X 申请日 -
公开(公告)号 CN114283876A 公开(公告)日 2022-04-05
申请公布号 CN114283876A 申请公布日 2022-04-05
分类号 G11C29/56(2006.01)I 分类 信息存储;
发明人 邓冏;蒋增城 申请(专利权)人 山东岱微电子有限公司
代理机构 北京康信知识产权代理有限责任公司 代理人 张岳峰
地址 250103山东省济南市历城区彩石街道商业街D区23号
法律状态 -

摘要

摘要 本申请提供了一种DDR信号质量的测试方法、测试装置与测试设备,该方法包括:获取芯片在轻载工作模式下的DDR待测信号的de‑skew值,将所述de‑skew值作为所述DDR待测信号窗口扫描的初始中心值;控制所述de‑skew值以所述初始中心值为中心变化,直至所述芯片无法正常工作,得到窗口边界值;根据所述窗口边界值确定所述DDR待测信号的窗口大小。该方法调整DDR信号的de‑skew值来确定de‑skew值的最大值和最小值,从而得到DDR信号的窗口大小,DDR信号的窗口越大,DDR信号的信号质量越好,无需对信号线刮线、焊接等操作,简化了测试操作,解决现有技术中DDR信号质量测试方法过于复杂的问题。