DDR信号质量的测试方法、测试装置与测试设备
基本信息

| 申请号 | CN202111603654.X | 申请日 | - |
| 公开(公告)号 | CN114283876A | 公开(公告)日 | 2022-04-05 |
| 申请公布号 | CN114283876A | 申请公布日 | 2022-04-05 |
| 分类号 | G11C29/56(2006.01)I | 分类 | 信息存储; |
| 发明人 | 邓冏;蒋增城 | 申请(专利权)人 | 山东岱微电子有限公司 |
| 代理机构 | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 张岳峰 |
| 地址 | 250103山东省济南市历城区彩石街道商业街D区23号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要

| 摘要 | 本申请提供了一种DDR信号质量的测试方法、测试装置与测试设备,该方法包括:获取芯片在轻载工作模式下的DDR待测信号的de‑skew值,将所述de‑skew值作为所述DDR待测信号窗口扫描的初始中心值;控制所述de‑skew值以所述初始中心值为中心变化,直至所述芯片无法正常工作,得到窗口边界值;根据所述窗口边界值确定所述DDR待测信号的窗口大小。该方法调整DDR信号的de‑skew值来确定de‑skew值的最大值和最小值,从而得到DDR信号的窗口大小,DDR信号的窗口越大,DDR信号的信号质量越好,无需对信号线刮线、焊接等操作,简化了测试操作,解决现有技术中DDR信号质量测试方法过于复杂的问题。 |





