一种检测磁场质量的方法及装置
基本信息
| 申请号 | CN201711105676.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN109782194B | 公开（公告）日 | 2021-06-04 |
| 申请公布号 | CN109782194B | 申请公布日 | 2021-06-04 |
| 分类号 | G01R33/02;G01C21/20 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 李隽颖 | 申请（专利权）人 | 高德信息技术有限公司 |
| 代理机构 | 北京领科知识产权代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | 张丹 |
| 地址 | 310052 浙江省杭州市滨江区长河街道网商路699号4号楼5楼508室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种检测磁场质量的方法及装置，该方法包括：定期分别获得电子设备的第一欧拉角和第二欧拉角；获得第一欧拉角在水平方向上的第一分量，获得对应的第二欧拉角在水平方向上的第二分量；计算第一分量和对应的第二分量的差值，并计算设定时间内的多项所述差值的方差值；判断所述方差值是否大于预设门限值，若大于，确认所述电子设备所处的磁场不稳定。可见，本发明方案实现了对磁场质量的检测。 |
