时钟测试方法、装置、量产测试方法及测试平台
基本信息
| 申请号 | CN202110267015.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113156799A | 公开（公告）日 | 2021-07-23 |
| 申请公布号 | CN113156799A | 申请公布日 | 2021-07-23 |
| 分类号 | G04D7/00 | 分类 | 测时学; |
| 发明人 | 周文浩;陈晓飞;刘伟 | 申请（专利权）人 | 宏晶微电子科技股份有限公司 |
| 代理机构 | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 | 代理人 | 彭瑞欣;冯建基 |
| 地址 | 230088 安徽省合肥市高新区望江西路800号动漫基地B1楼9层北 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请公开了一种时钟测试方法、装置、量产测试方法及测试平台。该时钟测试方法包括基于待测芯片产生的待测时钟获取时钟窗口，其中，时钟窗口的大小是预先设定的；利用标准时钟对时钟窗口进行计数，获得累积时钟计数；其中，标准时钟的频率大于待测时钟的频率；计算累积时钟计数与标准时钟计数的差值，获得累积时钟差值，比较累积时钟差值和预设的时钟阈值，并基于比较结果确定待测芯片的测试结果。该时钟测试方法可提高测试效率，减少误判，而且，可以大大降低成本。 |
