双脉冲测试电路及双脉冲测试方法
基本信息
| 申请号 | CN202210426667.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114755551A | 公开（公告）日 | 2022-07-15 |
| 申请公布号 | CN114755551A | 申请公布日 | 2022-07-15 |
| 分类号 | G01R31/26（2014.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 张铭远 | 申请（专利权）人 | 瑶芯微电子科技（上海）有限公司 |
| 代理机构 | 上海光华专利事务所（普通合伙） | 代理人 | - |
| 地址 | 201207上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区蔡伦路1690号3幢405、416室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种双脉冲测试电路及双脉冲测试方法，所述双脉冲测试电路包括：低压电源、储能电感、高压电容、第一功率器件、第二功率器件及钳位模块；所述储能电感的第一端连接所述低压电源的正极，第二端连接所述第一功率器件的第一端及所述第二功率器件的第一端；所述第一功率器件的第二端连接所述低压电源的负极，控制端接入双脉冲信号；所述第二功率器件的第二端通过所述高压电容连接所述储能电感的第一端；所述钳位模块连接所述高压电容的两端，用于将电容电压钳位至设定高压。通过本发明提供的双脉冲测试电路及双脉冲测试方法，解决了现有双脉冲测试技术中存在高压触电风险及炸管风险的问题。 |
