一种光电耦合器测试座及测试装置

基本信息

申请号 CN202022940999.1 申请日 -
公开(公告)号 CN214374878U 公开(公告)日 2021-10-08
申请公布号 CN214374878U 申请公布日 2021-10-08
分类号 G01R1/04(2006.01)I 分类 测量;测试;
发明人 张广添;吴质朴;何畏 申请(专利权)人 深圳市奥伦德元器件有限公司
代理机构 广州嘉权专利商标事务所有限公司 代理人 黄英杰
地址 518100广东省深圳市龙岗区龙城街道黄阁路天安数码创业园1号厂房B座3楼
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了一种光电耦合器测试座及测试装置,所述光电耦合器测试座包括:底座,设置有导轨;基座组件,包括第一基座、第二基座和第三基座,所述第一基座和所述第三基座滑动设置在所述导轨上;接口组件,包括第一测试片、第二测试片、第三测试片、第四测试片、第五测试片和第六测试片。通过滑动第一基座,使第一基座与第二基座之间的间距与光电耦合器的引脚之间的间距相等,通过滑动第三基座,使第三基座与第二基座之间的间距与光电耦合器的引脚之间的间距相等;接口组件能够连接4脚光电耦合器、5脚光电耦合器和6脚光电耦合器;能够测试不同种类的光电耦合器,相对于定制对应的测试座来测试不同种类的光电耦合器,能够降低成本。