一种带回路测试功能的光耦高压测试装置
基本信息
| 申请号 | CN202022941639.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN214375118U | 公开（公告）日 | 2021-10-08 |
| 申请公布号 | CN214375118U | 申请公布日 | 2021-10-08 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 张广添;黄宝莹;吴质朴;何畏 | 申请（专利权）人 | 深圳市奥伦德元器件有限公司 |
| 代理机构 | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 | 代理人 | 梁国平 |
| 地址 | 518100广东省深圳市龙岗区龙城街道黄阁路天安数码创业园1号厂房B座3楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种带回路测试功能的光耦高压测试装置，包括：底座；测试单元，测试单元安装在底座上，测试单元包括第一测试单元和第二测试单元；第一测试单元包括第一测试片、第二测试片、第三测试片和第一夹持区；第二测试单元包括第四测试片、第五测试片、第六测试片和第二夹持区。在测试时，带回路测试功能的光耦高压测试装置的第一测试片、第二测试片和第三测试片共同卡设固定光耦的一只输入引脚，第四测试片、第五测试片和第六测试片共同卡设固定光耦的另一只输入引脚，从而实现测试单元能紧紧扣住光耦芯片的技术效果。 |
