电子元器件测试方法、测试设备和智能锁
基本信息
| 申请号 | CN202111332493.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114137334A | 公开（公告）日 | 2022-03-04 |
| 申请公布号 | CN114137334A | 申请公布日 | 2022-03-04 |
| 分类号 | G01R31/00（2006.01）I;G07C9/00（2020.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 陈怡威 | 申请（专利权）人 | 广东名门锁业有限公司 |
| 代理机构 | 北京鸿元知识产权代理有限公司 | 代理人 | 李平;杨桦 |
| 地址 | 528414广东省中山市东升镇东成北路6号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及电子元器件测试技术领域，提供了一种电子元器件测试方法，通过采集待测元器件在执行预设指令时的电流数据后，与标定元器件在执行该预设指令时的电流数据进行对比，分析二者的差异来判断待测元器件的工作状态。既可获取该待测元器件可否正常工作，还可获取该待测元器件可否有效工作。 |
