一种电子产品屏蔽盖虚焊检测装置和方法
基本信息
| 申请号 | CN202010199750.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113495098A | 公开（公告）日 | 2021-10-12 |
| 申请公布号 | CN113495098A | 申请公布日 | 2021-10-12 |
| 分类号 | G01N29/04（2006.01）I;G01N29/22（2006.01）I;G01N29/34（2006.01）I;G01N29/44（2006.01）I;G01B11/00（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 马宏 | 申请（专利权）人 | 觉芯电子（无锡）有限公司 |
| 代理机构 | 广州三环专利商标代理有限公司 | 代理人 | 郝传鑫;贾允 |
| 地址 | 214000江苏省无锡市滨湖区菱湖大道200号中国传感网国际创新园A802 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种电子产品屏蔽盖虚焊检测装置和方法，包括：图像坐标采集模块、敲击发声及音频采集模块和数据处理模块，所述敲击发声及音频采集模块包括：敲击发声单元和音频采集单元，所述图像坐标采集模块、敲击发声单元和音频采集单元均与所述数据处理模块连接。本发明不仅可以大幅度提高电子产品屏蔽盖的检出速率，降低电子产品屏蔽盖的漏检率，保证了电子产品屏蔽盖的合格率，并且本发明还具有适用性强，安全系数高等特点。 |
