一种砷化镓抛光片样品厚度测量工装
基本信息
申请号 | CN202022224972.2 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN213301042U | 公开(公告)日 | 2021-05-28 |
申请公布号 | CN213301042U | 申请公布日 | 2021-05-28 |
分类号 | G01B5/06(2006.01)I | 分类 | - |
发明人 | 卜俊鹏 | 申请(专利权)人 | 浙江康鹏半导体有限公司 |
代理机构 | - | 代理人 | - |
地址 | 321100浙江省金华市兰溪市兰江街道创新大道1199号(自主申报) | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本实用新型涉及质量检测技术领域,且公开了一种砷化镓抛光片样品厚度测量工装,包括测量箱,所述测量箱内壁顶部固定安装有滑轨,所述滑轨底部滑动连接有齿条板,所述测量箱内壁前后两侧之间固定安装有固定杆,所述固定杆外侧活动连接有与齿条板底部啮合的第一齿轮,所述测量箱内壁后侧固定安装有位于固定杆下方的固定轴,所述固定轴前侧活动连接有与第一齿轮啮合的第二齿轮,所述第二齿轮前侧固定连接有一端延伸至测量箱前侧的转动轴。该砷化镓抛光片样品厚度测量工装,将样品水平放置从前至后由固定轮与活动轮之间接触点滑入,指针偏转,即可将抛光片的厚度测量值进行放大,方便了使用者使用。 |
