首页/ 广东利扬芯片测试股份有限公司/ 专利详情

存储器修复测试方法及系统

基本信息

申请号 CN202110682992.0 申请日 -
公开（公告）号 CN113380314A 公开（公告）日 2021-09-10
申请公布号 CN113380314A 申请公布日 2021-09-10
分类号 G11C29/08（2006.01）I 分类 信息存储;
发明人 涂筱舒;董尚平;卢旭坤;袁俊 申请（专利权）人 广东利扬芯片测试股份有限公司
代理机构 广州三环专利商标代理有限公司 代理人 张艳美;赵贯杰
地址 523000广东省东莞市万江街道莫屋新丰东二路2号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种存储器修复测试方法及系统，其中该方法包括如下步骤：生成一信息统计记录表；通过测试向量对待测存储器进行数据分析和地址解析，以得到存储器中失效存储单元的地址信息和数据信息；将失效存储单元的地址信息和对应的数据信息录入信息统计记录表中；当所有测试向量执行完毕后，根据信息统计记录表中记录的信息对存储器中失效存储单元进行修复处理；采用上述存储器修复测试方法，在采用多段测试向量对存储器进行测试过程中，中间无须停顿，待所有测试向量执行完毕后，统一有有序地对所有的失效存储单元进行修复处理，具有测试和修复处理效率高的优点，有效节约测试时间。