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能够提供精准参考电压的芯片测试系统

基本信息

申请号 CN202023223491.6 申请日 -
公开（公告）号 CN214225252U 公开（公告）日 2021-09-17
申请公布号 CN214225252U 申请公布日 2021-09-17
分类号 G01R1/28（2006.01）I;G01R31/28（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 谢克展;陈勇;周彬;辜诗涛;袁俊 申请（专利权）人 广东利扬芯片测试股份有限公司
代理机构 广州三环专利商标代理有限公司 代理人 张艳美;刘光明
地址 523000广东省东莞市万江街道莫屋新丰东二路2号
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了一种能够提供精准参考电压的芯片测试系统，其包括测试板和测试机，测试板包括分压电路，测试机与分压电路连接以为分压电路提供输入电压，分压电路包括多个串联的电阻，以及设置在相邻两电阻之间的第一分压节点和第二分压节点，第一分压节点和第二分压节点分别连接至被测芯片的第一输入引脚和第二输入引脚以为被测芯片提供电压参考值，被测芯片根据电压参考值产生输出电压，测试机将被测芯片产生的输出电压与设定电压值进行比较。采用本实用新型能够提供精准参考电压的芯片测试系统，能够保持较高的测试准确性，有效地提高良品率和产能。