信号转接板、芯片测试装置及测试方法
基本信息
申请号 | CN202110645034.6 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN113358902A | 公开(公告)日 | 2021-09-07 |
申请公布号 | CN113358902A | 申请公布日 | 2021-09-07 |
分类号 | G01R1/04(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 钱向东;卢旭坤;袁俊;覃瑜;肖岚天 | 申请(专利权)人 | 广东利扬芯片测试股份有限公司 |
代理机构 | 广州三环专利商标代理有限公司 | 代理人 | 张艳美;赵贯杰 |
地址 | 523000广东省东莞市万江街道莫屋新丰东二路2号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明公开了一种信号转接板、信号转接板及芯片测试方法,其中,信号转接板包括一板体,板体上设置有若干信号接口和若干第一信号转接座,若干信号接口用于与测试芯片用的测试机的测试端口电性连接,每一第一信号转接座与若干信号接口中的部分电性连接,以用于转接若干路测试信号,且每一第一信号转接座可通过一多路传输信号线与安装待测芯片的测试板以可插拔方式电性连接;通过上述信号转接板,在对不同参数的芯片进行测试时,操作人员只需更换第一信号转接座的使用数量即可,无须重复逐个插拔信号接口,从而在保证精度和测试信号不干扰的前提下,有效提高芯片测试过程中架设测试环境的效率,而且可避免信号线连接错误。 |
