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芯片测试结果BIN项分类系统及其分类方法

基本信息

申请号	CN202110139460.2	申请日	-
公开（公告）号	CN112974272A	公开（公告）日	2021-06-18
申请公布号	CN112974272A	申请公布日	2021-06-18
分类号	B07C5/02;B07C5/342;B07C5/34;B07C5/36;B07C5/38;G01R31/28	分类	将固体从固体中分离；分选;
发明人	肖思文;郑朝生;郑挺;肖小波;容承昌;袁俊;卢旭坤;辜诗涛;张亦锋	申请（专利权）人	广东利扬芯片测试股份有限公司
代理机构	广州三环专利商标代理有限公司	代理人	张艳美;刘光明
地址	523000 广东省东莞市万江街道莫屋新丰东二路2号
法律状态	-

摘要

本发明公开一种芯片测试结果BIN项分类系统及其分类方法，分类系统包括进料区、分料区及出料区。进料区设有第一读码器，第一读码器读取进料盘上的标识码，标识码记录有进料盘中各芯片的BIN项信息及坐标。分料区设有多个料槽及机械手臂，机械手臂拿取进料盘中的芯片放至料槽，然后将相同BIN项排列到一起，于相同BIN项达到预设数目时拿取该BIN项芯片并运动至出料区的接料区域。出料区设有台车机构及分盘机构，分盘机构承载多个出料盘，每一出料盘用于容置一种BIN项芯片，处理器根据达到预设数目的BIN项驱使分盘机构、台车机构取出对应的料盘，台车机构承载该出料盘运动至接料区域接收芯片。本发明实现了将进料盘中的多种BIN项芯片分成单一BIN项输出。