两独立平面角度测量与平行对正方法

基本信息

申请号 CN202110592116.9 申请日 -
公开(公告)号 CN113310477B 公开(公告)日 2022-06-28
申请公布号 CN113310477B 申请公布日 2022-06-28
分类号 G01C17/00(2006.01)I;G01B21/24(2006.01)I;G01B21/22(2006.01)I 分类 测量;测试;
发明人 李文龙;杨静萍 申请(专利权)人 大连民族大学
代理机构 大连智高专利事务所(特殊普通合伙) 代理人 -
地址 116600辽宁省大连市经济技术开发区辽河西路18号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种两独立平面角度测量与平行对正方法,涉及加工设备及测量装置等的相对位置调整及基面平行对正技术领域,利用电子水平仪和在“十”字基座上安装的罗盘仪,建立自然标架,在此基础上,测量任意两平面所夹角度、或使任意两平面平行对正,解决了对于分离布置的大型加工/测量装置与其被加工/被测量平面之间的平行度测量难以实现的问题,能够实现两距离较远平面的平行对正,操作便捷。