一种芯片测试设备
基本信息
| 申请号 | CN202121680426.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN215894842U | 公开（公告）日 | 2022-02-22 |
| 申请公布号 | CN215894842U | 申请公布日 | 2022-02-22 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 黄太洲;马敏超;陈晨 | 申请（专利权）人 | 嘉兴市云达智能科技有限公司 |
| 代理机构 | 嘉兴启帆专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 熊亮亮 |
| 地址 | 314000浙江省嘉兴市经济技术开发区天枢路68号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种芯片测试设备，包括机架，所述机架上固设有第一循环换料装置、第二循环换料装置、第一机械臂、第二机械臂、第一测试平台、第二测试平台，所述第一循环换料装置与第二循环换料装置呈对角设置，所述第一测试平台与第二测试平台呈对角设置，所述第一机械臂与第二机械臂对称设置于机架的中部，架构布局设计合理，配合双转盘测试平台，每个平台设有多个测试工位，随平台转盘转动多个测试工位可以进行多步骤或工序的测试，各机构协调配合完成动作，布局结构紧凑减小了设备占用体积，充分利用机架上空间的同时缩短物料转运时间，提高了测试效率。 |
