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光电接收芯片测试装置

基本信息

申请号 CN202120650572.X 申请日 -
公开（公告）号 CN214539905U 公开（公告）日 2021-10-29
申请公布号 CN214539905U 申请公布日 2021-10-29
分类号 G01R31/28（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 许飞 申请（专利权）人 合肥瀚信科技有限公司
代理机构 安徽申策知识产权代理事务所（普通合伙） 代理人 程艳梅
地址 230088安徽省合肥市高新区望江西路800号创新产业园A3楼906室
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了光电接收芯片测试装置，包括测试箱和芯片测试板，所述测试箱的下表面设置有支撑柱，所述测试箱的内侧壁从上至下分别固定连接有上分隔板、限位滑杆和下分隔板，所述测试箱的内左壁和内右壁均嵌设有轴承，所述轴承的内环面固定连接有横向调节丝杠，所述横向调节丝杠的表面螺纹连接有移动螺母。该光电接收芯片测试装置，通过设置芯片测试板、芯片测试槽、横向调节丝杠、移动螺母、伺服电机、上分隔板和芯片测试孔，能够控制伺服电机转动，根据待测试芯片的型号对芯片测试板的位置进行调整，使与待测试芯片相适配的芯片测试槽与芯片测试孔的位置对应，便于将芯片适配放入芯片测试槽内，达到对芯片进行测试的目的。