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芯片工艺监测测试装置

基本信息

申请号 CN202120648641.3 申请日 -
公开（公告）号 CN214539904U 公开（公告）日 2021-10-29
申请公布号 CN214539904U 申请公布日 2021-10-29
分类号 G01R31/28（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 吕学信 申请（专利权）人 合肥瀚信科技有限公司
代理机构 安徽申策知识产权代理事务所（普通合伙） 代理人 程艳梅
地址 230088安徽省合肥市高新区望江西路800号创新产业园A3楼906室
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型属于芯片测试技术领域，具体为芯片工艺监测测试装置，包括测试装置整体、放置箱、固定架和固定板，测试装置整体的顶端固定连接有放置箱，放置箱的左侧固定连接有固定架，放置箱的中间固定连接有固定板，放置箱的顶端固定连接有导向杆，放置箱的底端固定连接有支撑腿，固定板的正面活动连接有转动轴，转动轴是用来转动旋转板的，在要进行拆卸的时，先将固定板上的旋转板带动转动轴进行转动，使其不接触到测试平台，然后在握住测试平台上的拉手，将测试平台通过滑动槽拉出来，这时测试平台被拉出来就可以对测试槽内或者测试平台的内部进行检查维修了，拆卸时简单快捷，使得工作人员更方便的进行维修，避免了装置拆卸麻烦的问题。