利用瑕疵存储器的系统、装置和方法及封装结构
基本信息
| 申请号 | CN200710079392.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN101246741A | 公开（公告）日 | 2008-08-20 |
| 申请公布号 | CN101246741A | 申请公布日 | 2008-08-20 |
| 分类号 | G11C16/06(2006.01);G06F11/10(2006.01);G11C29/00(2006.01) | 分类 | 信息存储; |
| 发明人 | 张华龙;殷立定;罗魏熙 | 申请（专利权）人 | 深圳市芯邦微电子有限公司 |
| 代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人 | 深圳市芯邦微电子有限公司;深圳芯邦科技股份有限公司 |
| 地址 | 518057广东省深圳市高新区科技中二路软件园4号楼二层201－205室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种利用瑕疵存储器的方法，包括：置可编程模块为在线编程状态，将地址输入总线设置为与地址输出总线直通，检测瑕疵存储器中好坏块信息，并将该信息存入可编程模块；置可编程模块为工作状态，可编程模块根据瑕疵存储器中好坏块的情况，编程设置输入块地址和输出好快地址的映射关系并将其输入到译码控制模块，译码控制模块将输入的地址映射为好块的地址，输出到瑕疵存储器。本发明还提供利用瑕疵存储器的系统和装置及封装结构。利用本发明，可以实现最大可能的利用瑕疵存储器的好块。 |
