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一种PLC芯片等级检测方法

基本信息

申请号	CN202110893544.5	申请日	-
公开（公告）号	CN113624783A	公开（公告）日	2021-11-09
申请公布号	CN113624783A	申请公布日	2021-11-09
分类号	G01N21/956（2006.01）I;G01N21/01（2006.01）I	分类	测量；测试;
发明人	何祺昌;林棣棚	申请（专利权）人	安捷芯科技有限公司
代理机构	广东科信启帆知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	吴少东
地址	528459广东省中山市板芙镇深湾村启发南路26号（第1、2楼）
法律状态	-

摘要

本申请公开了一种PLC芯片等级检测方法，检测方法通过：首先获取各个通道的最大插损光谱曲线CH00nMAX、最小插损光谱曲线CH00nMIN以及平均插损光谱曲线CH00nAVG，然后在对应的光谱曲线中获取PB IL测试数据、PDW测试数据、1dB BW测试数据、3dB BW测试数据、AX测试数据，比对各通道的PB IL测试数据、PDW测试数据、1dB BW测试数据、3dB BW测试数据、AX测试数据数值大小，选出PB IL比对数据、PDW比对数据、1dB BW比对数据、3dB BW比对数据、AX比对数据及计算出IL unif比对数据，将各芯片比对数据与等级对比数据表中的各对比数据数值进行比对，从而判断芯片的等级，由于各类型芯片均具有上述的测试数据，本检测方法通用性强，避免出错。