一种元器件空间辐射效应探测装置
基本信息
| 申请号 | CN201711287554.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN108169785A | 公开（公告）日 | 2018-06-15 |
| 申请公布号 | CN108169785A | 申请公布日 | 2018-06-15 |
| 分类号 | G01T1/24 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 李璟璟;邵思霈;任文冠;王博;胡喜庆;郝晓云;潘睿元;肖婷;刘金胜;刘泳;王月;张玉兔;王世金 | 申请（专利权）人 | 北京天工科仪空间技术有限公司 |
| 代理机构 | 北京理工大学专利中心 | 代理人 | 仇蕾安;付雷杰 |
| 地址 | 264003 山东省烟台市高新区航天路513号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种元器件空间辐射效应探测装置，增加了辐射环境探头，在进行电子元器件在轨实验的同时，实时获取当前位置处的空间辐射环境信息。本发明结合实时测量的空间辐射环境对被测元器件进行考核，提高了电子元器件空间环境适应性评估的精准度。 |
