磁控溅射镀膜腔室、镀膜机以及镀膜方法

基本信息

申请号 CN202111316908.X 申请日 -
公开(公告)号 CN113774351B 公开(公告)日 2022-03-18
申请公布号 CN113774351B 申请公布日 2022-03-18
分类号 C23C14/35(2006.01)I 分类 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制〔2〕;
发明人 谭志 申请(专利权)人 武汉中维创发工业研究院有限公司
代理机构 华进联合专利商标代理有限公司 代理人 秦冉冉
地址 430000湖北省武汉市东湖新技术开发区关山大道473号光谷新发展国际中心写字楼B座第5、6层05-108室
法律状态 -

摘要

摘要 本发明涉及一种磁控溅射镀膜腔室、镀膜机以及镀膜方法。该磁控溅射镀膜腔室包括镀膜罩,样品台以及多个由外到内分布的磁控管组。其中,各磁控管组中具有偶数个磁控管且第1磁控管组的磁控管组中磁控管的数量≥4,第2磁控管组的磁控管组中磁控管的数量≥2,磁控管包括内磁体和位于内磁体两侧的两个外磁体,内磁体的极性与外磁体的极性相反。第1磁控管组中相邻的两个磁控管的外磁体的极性相反,所述第2磁控管组中相邻的两个磁控管的外磁体的极性相同。此时第2磁控管组中磁控管的磁力线会向外围延伸,同时被第1磁控管组中磁控管的磁力线束缚,这样可以有效提高等离子体的溅射纵深,进而提高大尺寸基材表面镀层厚度的均匀性。