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一种相控阵检测校准试块

基本信息

申请号 CN202121302520.X 申请日 -
公开（公告）号 CN215179931U 公开（公告）日 2021-12-14
申请公布号 CN215179931U 申请公布日 2021-12-14
分类号 G01N29/30（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 闫伟明;赖通;舒洁;蒋强;袁玉;李治乾 申请（专利权）人 重庆建工无损检测工程有限公司
代理机构 北京中建联合知识产权代理事务所（普通合伙） 代理人 郑广建;王永新
地址 400051重庆市九龙坡区袁家岗76号
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了一种相控阵检测校准试块，其包括主体部为矩形块，其顶面配置有台阶结构，相邻台阶结构的高度差相等；所述台阶结构还配置有测试孔，所述测试孔沿所述主体部的纵向设置，其自所述主体部的一个侧面沿纵向延伸而成；相邻测试孔的纵向长度不同；所述主体部包括第一台阶结构、第二台阶结构、第三台阶结构、第四台阶结构、第五台阶结构和第六台阶结构，台阶结构对应顶面的粗糙度不大于Ra3.2。本实用新型提供的一种相控阵检测校准试块，用于不等厚复杂铸铁件的无损检测，其结构合理，使用方便，通过一个校准试块完成校核，提高了校核效率，有利于准确高效的完成相关测试。