凸点制作方法以及凸点结构

基本信息

申请号 CN200910194787.9 申请日 -
公开(公告)号 CN102005396B 公开(公告)日 2012-12-05
申请公布号 CN102005396B 申请公布日 2012-12-05
分类号 H01L21/60(2006.01)I;H01L23/48(2006.01)I 分类 基本电气元件;
发明人 丁万春 申请(专利权)人 芯电半导体(上海)有限公司
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人 芯电半导体(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
地址 201203 上海市浦东新区张江路18号
法律状态 -

摘要

摘要 一种凸点制作方法以及凸点结构,其中,所述凸点制作方法包括:在晶片上沉积凸点下金属层;在凸点下金属层上形成光刻胶层,并曝光、显影形成开口,所述开口中顶部横截面大于底部横截面,且底部露出凸点下金属层;在开口内填充金属,形成金属支柱;在金属支柱顶部沉积焊料,去除所述光刻胶层及其底部的凸点下金属层;高温回流金属支柱顶部的焊料,形成球状凸点焊料。与现有技术相比,本发明制作的凸点结构中,金属支柱与球状凸点焊料间具有较大的接触面积,从而提高了凸点的导电能力,且结构简单,工艺与现有技术相兼容。