凸点制作方法以及凸点结构
基本信息
申请号 | CN200910194787.9 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN102005396B | 公开(公告)日 | 2012-12-05 |
申请公布号 | CN102005396B | 申请公布日 | 2012-12-05 |
分类号 | H01L21/60(2006.01)I;H01L23/48(2006.01)I | 分类 | 基本电气元件; |
发明人 | 丁万春 | 申请(专利权)人 | 芯电半导体(上海)有限公司 |
代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人 | 芯电半导体(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
地址 | 201203 上海市浦东新区张江路18号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 一种凸点制作方法以及凸点结构,其中,所述凸点制作方法包括:在晶片上沉积凸点下金属层;在凸点下金属层上形成光刻胶层,并曝光、显影形成开口,所述开口中顶部横截面大于底部横截面,且底部露出凸点下金属层;在开口内填充金属,形成金属支柱;在金属支柱顶部沉积焊料,去除所述光刻胶层及其底部的凸点下金属层;高温回流金属支柱顶部的焊料,形成球状凸点焊料。与现有技术相比,本发明制作的凸点结构中,金属支柱与球状凸点焊料间具有较大的接触面积,从而提高了凸点的导电能力,且结构简单,工艺与现有技术相兼容。 |
