芯片开短路测试装置
基本信息
| 申请号 | CN202020748108.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN212275891U | 公开（公告）日 | 2021-01-01 |
| 申请公布号 | CN212275891U | 申请公布日 | 2021-01-01 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 周武林 | 申请（专利权）人 | 江西联智集成电路有限公司 |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 江西联智集成电路有限公司 |
| 地址 | 330096江西省南昌市南昌高新技术产业开发区创新一路59号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型提供了一种芯片开短路测试装置。所述装置包括：开关切换模块(1)，连接至芯片(6)的N个待测引脚，N为大于1的整数；控制模块(2)，连接至开关切换模块(1)，控制开关切换模块(1)依次接通N个待测引脚；恒流源模块(3)，连接至开关切换模块(1)，为开关切换模块(1)接通的待测引脚提供测试电流。利用开关切换模块依次接通芯片的待测引脚以进行开短路测试，提高了测试灵活性，并且能够自动实现所有引脚的开短路测试，降低人工操作成本。 |
