一种待测设备批量测试方法
基本信息
| 申请号 | CN202010728865.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN111856198A | 公开（公告）日 | 2020-10-30 |
| 申请公布号 | CN111856198A | 申请公布日 | 2020-10-30 |
| 分类号 | G01R31/01(2020.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 周军军;周武林;邓飞龙;李新光;曾华斌;王志林 | 申请（专利权）人 | 江西联智集成电路有限公司 |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 江西联智集成电路有限公司 |
| 地址 | 330096江西省南昌市高新技术产业开发区创新一路59号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种待测设备批量测试方法及系统，包括：S11，向一主板发送使之成为主机的指令，该主机向其他主板发送使之成为从机的指令，其中，各主板用于采集至少一个待测设备的测试数据，各主板之间通过总线通信连接；S12，从主机获取各主板采集的测试数据，其中，每个从机采集的测试数据通过总线发送至主机；S13，对测试数据进行处理及分析。本发明提供的方法能够大批量地测试设备成品，确保成品的出厂品质和安全，同时能提高测试效率、降低测试成本。 |
