一种芯片的固件完整性检测方法及系统
基本信息
| 申请号 | CN202010625204.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN111782531A | 公开（公告）日 | 2020-10-16 |
| 申请公布号 | CN111782531A | 申请公布日 | 2020-10-16 |
| 分类号 | G06F11/36(2006.01)I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 周武林;周军军;李新光;韩丞俊 | 申请（专利权）人 | 江西联智集成电路有限公司 |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 江西联智集成电路有限公司 |
| 地址 | 330096江西省南昌市高新技术产业开发区创新一路59号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种芯片的固件完整性检测方法及系统，本方法包括：S1，将固件发送至芯片(200)中；S2，获取第一校验结果和第二校验结果，其中，第一校验结果由本地对固件进行校验而产生，第二校验结果由芯片(200)对固件进行校验而产生；S3，根据第一校验结果和第二校验结果判断固件是否成功下载到芯片(200)中。本发明提供的方法能够缩短芯片(200)的固件读取的时间，加快固件数据完整性确认的速度。 |
