一种检测印刷电路板缺陷的轮廓分析方法
基本信息
| 申请号 | CN200610061023.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN1869667A | 公开（公告）日 | 2006-11-29 |
| 申请公布号 | CN1869667A | 申请公布日 | 2006-11-29 |
| 分类号 | G01N21/956(2006.01) | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 李贤伟;贺兴志;王琦 | 申请（专利权）人 | 深圳市恒达友威自动化科技有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 518000广东省深圳市宝安桃花源科技创新园310室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种检测印刷电路板缺陷的轮廓分析方法。该方法包括以下步骤：1)将Gerber格式转换为高分辨率的位图格式，获取印刷电路板的参考图象；2)利用高速线阵列相机扫描印刷电路板，获取印刷电路板的实际图象；3)计算印刷电路板的标准参考轮廓和实际轮廓，并比较印刷电路板的标准参考轮廓和实际轮廓；4)根据比较结果确定印刷电路板的标准参考轮廓和实际轮廓之间的差异；5)设置缺陷过滤条件，并对差异进行过滤处理。通过以上步骤对传统的印刷电路板检测工艺进行了改进，进一步提高了检测效率。 |
