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电路板的双面外观检测方法

基本信息

申请号	CN202110156119.8	申请日	-
公开（公告）号	CN112945986A	公开（公告）日	2021-06-11
申请公布号	CN112945986A	申请公布日	2021-06-11
分类号	G01N21/956;G01N21/01	分类	测量；测试;
发明人	杨海涛;郭东升	申请（专利权）人	鼎勤科技（深圳）有限公司
代理机构	深圳市中科创为专利代理有限公司	代理人	彭涛;冯建华
地址	518000 广东省深圳市宝安区新桥街道万丰社区大洋田工业区45栋101-201
法律状态	-

摘要

本发明涉及电路板检测技术领域，尤其涉及一种电路板的双面外观检测方法，包括如下步骤：步骤S 1：拍摄并获取电路板的第一面与第二面的图像数据；步骤S2：对第一面的图像数据获取特定位置的第一报点及对第二面的图像数据获取特定位置的第二报点；步骤S3：对第一报点进行外观缺陷判定，以确定第一报点为第一NG点或第一待确认点及对第二报点进行外观缺陷判定，以确定第二报点为第二NG点或第二待确认点；步骤S4：记录并提取第一NG点及第一待确认点的坐标以及记录并提取第二NG点及第二待确认点的坐标；步骤S5：复检。本发明的电路板的双面外观检测方法有利于降低错检、漏检的概率，具有较高的自动化程度，有利于减少工作人员的工作任务。