一种光学器件平面45度角度检测装置
基本信息
| 申请号 | CN201821091134.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN208350334U | 公开（公告）日 | 2019-01-08 |
| 申请公布号 | CN208350334U | 申请公布日 | 2019-01-08 |
| 分类号 | G01M11/02 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 谢燕;万祥;童严;时尧成;戴道锌;刘勇 | 申请（专利权）人 | 苏州天步光电技术有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 215500 江苏省苏州市常熟高新技术产业开发区汇金三路东东南会1号楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种光学器件平面45度角度检测装置，包括装置主体、激光光源、可调光源固定架、器件固定平台、角度检测区；所述激光光源为检测输入光，通过可调光源固定架来调整输入光的水平位置；所述器件固定平台与激光光源为垂直状态；所述角度检测区为反射光呈现区。本实用新型一种光学器件平面45度角度检测装置，可应用于光学器件在生产加工过程中的角度检测，便于器件的后道耦合与封装，提高光学器件耦合与封装效率及良率，降低生产成本。 |
