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一种二维光纤阵列的测试方法

基本信息

申请号	CN201811638679.1	申请日	-
公开（公告）号	CN109580186A	公开（公告）日	2019-04-05
申请公布号	CN109580186A	申请公布日	2019-04-05
分类号	G01M11/02（2006.01）I	分类	测量；测试;
发明人	谢燕; 万祥; 童严; 时尧成; 戴道锌	申请（专利权）人	苏州天步光电技术有限公司
代理机构	苏州诚逸知识产权代理事务所（特殊普通合伙）	代理人	苏州天步光电技术有限公司
地址	215500 江苏省苏州市常熟高新技术产业开发区汇金三路东东南会1号楼
法律状态	-

摘要

本发明公开了一种二维光纤阵列的测试方法，具体步骤包括：A、测试出非二维光纤阵列辅助测试结构的光学损耗M1；B、使用六维高精度调节架与插回损测试仪将非二维光纤阵列辅助测试结构与二维光纤阵列进行对准测试，得出光纤阵列的组合光学损耗M2；C、将上述步骤得出的光学损耗M2减去M1可计算出其中的二维光纤阵列的损耗M3，根据M3值的大小范围来判断二维光纤阵列是否满足使用要求，达到二维光纤阵列在应用前的性能判别要求。通过上述方式，本发明二维光纤阵列的测试方法可适用于各种型号规格的二维光纤阵列测试，能够有效检测二维光纤阵列光学损耗，提前筛选二维光纤阵列的数据范围，减少应用过程中的耦合时间及匹配误差，提高耦合效率。