基于分数阶微分的点特征跟踪方法
基本信息
| 申请号 | CN201210139106.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN102693216B | 公开（公告）日 | 2015-06-10 |
| 申请公布号 | CN102693216B | 申请公布日 | 2015-06-10 |
| 分类号 | G06F17/13(2006.01)I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 胡伏原;汪小东;鲁雪松;袁金刚 | 申请（专利权）人 | 苏州盛景空间信息技术有限公司 |
| 代理机构 | 南京苏科专利代理有限责任公司 | 代理人 | 王玉国;陈忠辉 |
| 地址 | 215021 江苏省苏州市工业园区1355号国际科技园111C单元 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及基于分数阶微分的点特征跟踪方法，采用基于分数阶微分的方法检测点特征；通过Kalman方法或者扩展方法预测下一帧点的位置；在给定区域中搜索，并进行相似度度量，如果满足条件，则为对应的跟踪点；否则不存在对应的跟踪点，对于这样的点，如果在后续k帧范围内仍然没有对应的跟踪匹配点，则认为跟踪丢失，其中k＞2；如果跟踪正常，则更新点特征。利用分数阶微分表示纹理细节丰富和纹理信息不明显的区域比整数阶微分更具优势，针对不同方向和不同阶次的分数阶微分形成不同的微分梯度图，并且分别与不同大小高斯核卷积形成不同尺度的卷积方向图，确保了方向变化时点特征表示的较大变化，具有旋转不变性、平移和尺度不变性。 |
