一种提高超声波无损探伤钎着率准确度的方法
基本信息
| 申请号 | CN201510483096.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN105044214B | 公开（公告）日 | 2018-05-25 |
| 申请公布号 | CN105044214B | 申请公布日 | 2018-05-25 |
| 分类号 | G01N29/06 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 叶连慧;裘揆;陈乐生 | 申请（专利权）人 | 上海和伍精密仪器股份有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 200240 上海市闵行区剑川路953弄322号一楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及一种提高超声波无损探伤钎着率准确度的方法，步骤：进行超声波无损探伤C扫描图像识别；将整个C扫描图像进行灰度处理；根据每个扫描点的像素值，计算整个焊接层区域的钎着率。本发明无需考虑钎着率阈值，只考虑每个点的像素值对钎着率的贡献，大大提高了钎着率的计算准确度，杜绝了将合格零件误判为超差品或者将超差品误判为合格品的误判问题，避免了浪费，消除了安全隐患。 |
