低压电器电触头超声波无损检测用测试块及其组合和应用
基本信息
| 申请号 | CN201610035860.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN105548371B | 公开（公告）日 | 2019-03-08 |
| 申请公布号 | CN105548371B | 申请公布日 | 2019-03-08 |
| 分类号 | G01N29/30（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 张国方; 钱嘉锟; 肖东; 裘揆 | 申请（专利权）人 | 上海和伍精密仪器股份有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 200240 上海市闵行区剑川路953弄322号一楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开一种低压电器电触头超声波无损检测用测试块及其组合和应用，所述测试块由三部分组成：第一部分为凸字型部件，第二部分为圆环形密封部件，第三部分为密封盖；所述圆环形密封部件安装在所述凸字型部件底部，所述圆形密封盖设置在所述凸字型部件顶部，所述圆环形密封部件位于所述凸字型部件、所述密封盖之间；所述凸字型部件是指整体呈凸字型结构，凸字型的上下两部分均是圆柱体或长方体；所述凸字型部件内部均设有梯形孔。测试块单独使用其中任意一个测试块或者多个测试块任意组合。本发明可供检测人员方便的使用于探头、检测设备的性能测试、灵敏度的调整，检测特殊形状工件时的调整以及测量范围的调整等方面的工作。 |
