手动芯片测试盖
基本信息
| 申请号 | CN201721359603.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN207380199U | 公开（公告）日 | 2018-05-18 |
| 申请公布号 | CN207380199U | 申请公布日 | 2018-05-18 |
| 分类号 | G01R31/28;G01R1/04 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 李俊敏;李俊强 | 申请（专利权）人 | 东莞市睿辉机电科技有限公司 |
| 代理机构 | 深圳茂达智联知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 东莞市睿辉机电科技有限公司 |
| 地址 | 523000 广东省东莞市寮步镇凫山金兴路525号7栋1F-A区 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种手动芯片测试盖，包括支撑座、压头、挂钩、基座和调节螺栓，所述支撑座设于基座下方，所述支撑座上设有通孔，所述压头设于支撑座的通孔中，所述挂钩铰接于基座的侧面，所述基座设有调节孔，所述调节孔内设有螺纹，所述调节螺栓与调节孔内的螺纹配合，所述压头弹性固定于基座的下部，所述调节螺栓的下部抵接压头。本实用新型提供的手动芯片测试盖，可测试不同厚度的芯片，准确率高。 |
