一种多数量存储芯片的测试设备
基本信息
| 申请号 | CN201910772509.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112420120A | 公开（公告）日 | 2021-02-26 |
| 申请公布号 | CN112420120A | 申请公布日 | 2021-02-26 |
| 分类号 | G11C29/56(2006.01)I;G11B33/14(2006.01)I | 分类 | 信息存储; |
| 发明人 | 许斌 | 申请（专利权）人 | 上海优异达机电有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 201619上海市松江区洞泾镇洞厍路601号4栋2楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供了芯片多数量同时在线测试的设备，本发明由几种相同的模块组成，分为前后两部分，前半部分是测试部分，该部分采用托盘与导向板结合的设计方式，测试基板直接固定在托盘上，托盘通过导向板的滑槽前后滑动，方便取放；每对导向板都有多组滑道，多组滑道可放置多层托盘，减少了测试的空间的占用，增加了测试的数量；后半部分为测试电脑部分，该部分也采用托盘式设计，方便对测试电脑的维护；一个测试电脑对应前面多个托盘的测试，测试电脑与托盘通过排线或转接板连接；为减少芯片在测试过程中芯片发热对测试的影响，设备安装有多组散热风扇。 |
