精密长度测量与控制实时综合修正方法及其装置
基本信息
| 申请号 | CN88101568.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN1018475B | 公开（公告）日 | 1992-09-30 |
| 申请公布号 | CN1018475B | 申请公布日 | 1992-09-30 |
| 分类号 | G01B11/02 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 张学能;刘洪图 | 申请（专利权）人 | 上海第二光学仪器厂 |
| 代理机构 | 上海工业大学 | 代理人 | 陶鑫良;贾泽才 |
| 地址 | 上海市枣阳路299号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明属于计量技术与控制技术领域，是一种对长度测量和位移控制时的He-Ne激光波长类长度基准器及其测长系统以及被测工件的各实时影响因素进行不用传感器采样的总体性综合修正的方法及实现这一方法的装置。主要由长度基准讯号交换系统，实时修正数据处理系统，终端显示记录控制系统组成，其始终直接溯源于He-Ne激光波长，能即时直接测量和显示被测工件的标准长度值。具有量程大、精度高、成本低等系列积极效果， |
