多层结构屏幕的异物缺陷区分方法、电子设备及存储介质
基本信息
| 申请号 | CN202111047559.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113484333B | 公开（公告）日 | 2021-12-14 |
| 申请公布号 | CN113484333B | 申请公布日 | 2021-12-14 |
| 分类号 | G01N21/95（2006.01）I;G01N21/94（2006.01）I;G06T7/00（2017.01）I;G06T7/13（2017.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 不公告发明人 | 申请（专利权）人 | 苏州高视半导体技术有限公司 |
| 代理机构 | 惠州市超越知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 陈文福 |
| 地址 | 215163江苏省苏州市高新区嘉陵江路198号11幢9层903室、904室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请是关于一种多层结构屏幕的异物缺陷区分方法。该方法包括：将待测的多层结构屏幕的显示画面切换为白色画面；在M个方向的表面光源的切换照射下对多层结构屏幕进行拍摄，使得待测缺陷在白色画面中产生阴影，得到M个目标检测图像；分别根据M个目标检测图像获取待测缺陷的缺陷主体轮廓以及缺陷阴影轮廓；根据缺陷主体轮廓确定第一灰度直方图，并根据缺陷阴影轮廓确定第二灰度直方图；根据第一灰度直方图以及第二灰度直方图确定缺陷主体轮廓与缺陷阴影轮廓之间的推土距离EMD；将EMD与预设阈值对比，根据对比结果确定待测缺陷的缺陷类型。本申请提供的方案，能够准确区分待测缺陷的缺陷类型，降低多层结构屏幕的异物缺陷误判率。 |
