一种低能质子束的发射度测量仪数据处理方法及其装置

基本信息

申请号 CN202011484138.5 申请日 -
公开(公告)号 CN112698379A 公开(公告)日 2021-04-23
申请公布号 CN112698379A 申请公布日 2021-04-23
分类号 G01T1/29;G06T5/00;G06T7/277 分类 测量;测试;
发明人 张鸿;周博文;张鹏蛟;李文亮;侯瑞;李俊周;孙安 申请(专利权)人 南京质子源工程技术研究院有限公司
代理机构 常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙) 代理人 顾翰林
地址 210046 江苏省南京市栖霞区仙林大道163号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种低能质子束的发射度测量仪数据处理方法及其装置,属于粒子加速器技术领域,将发射度测量仪测量的灰度图片进行统计学分析,获得本底噪声,去除本底噪声,寻峰、峰的再处理、中心化,最后计算发射度,解决了根据不同的情况待测束流流强选择最适合方法进行发射度的计算的技术问题,本发明根据当前测量数据的信噪比选择适应的方法进行背景噪声的滤除,极大的提高了滤除效率。