一种开口式环形磁栅检测装置和电梯
基本信息
| 申请号 | CN202020761571.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN213021415U | 公开（公告）日 | 2021-04-20 |
| 申请公布号 | CN213021415U | 申请公布日 | 2021-04-20 |
| 分类号 | G01B7/02(2006.01)I;G01B7/00(2006.01)I;B66B5/02(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 杨革文 | 申请（专利权）人 | 深圳市一号楼科技发展有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市博衍知识产权代理有限公司 | 代理人 | 曾新浩 |
| 地址 | 518000广东省深圳市南山区西丽街道朗山路16号华瀚创新园办公楼D座310室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请公开了一种电梯和一种磁栅检测装置，所述磁栅检测装置包括磁栅尺及至少有两个的读头组件和感应开关。所述读头组件设置于磁栅尺外侧，读头组件的工作面与磁栅尺的工作面相对应；所述感应开关设置为随着磁栅尺转动并切换读头组件的工作状态；感应开关位置与磁栅尺缺口的位置相对应，两个读头组件的间距大于或等于所述缺口的距离。本申请通过将磁栅尺开设一个缺口，只需将缺口撑开套进待检测设备中即可，从而使得拆装更加方便，再以两个读头组件和感应开关来协同读取转盘位移数据，避开磁栅尺缺口对连续转动数据读取的影响，确保磁栅检测装置的开口特性与工作准确性和稳定性。 |
