一种半导体材料的触头制作方法

基本信息

申请号 CN201911017260.9 申请日 -
公开(公告)号 CN110767543B 公开(公告)日 2021-10-08
申请公布号 CN110767543B 申请公布日 2021-10-08
分类号 H01L21/28(2006.01)I 分类 基本电气元件;
发明人 闫一方 申请(专利权)人 苏师大半导体材料与设备研究院(邳州)有限公司
代理机构 北京和联顺知识产权代理有限公司 代理人 谢冰
地址 221300江苏省徐州市邳州市邳州经济开发区辽河西路88号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供一种半导体材料的触头制作方法,涉及材料科学技术领域。该半导体材料的触头制作方法,包括以下步骤:S1.准备一半导体材料作为基板,对基板的表面进行抛光处理,然后去除基板表面的污物,并将基板放入到HCl溶液中浸泡3‑5min,取出后放入到真空环境中,利用去离子水对其表面进行反复冲洗,最后利用氮气对其进行干燥处理;S2.在基板表面形成多个触头区,然后利用溅射法对基板表面进行钝化,形成二氧化硅钝化层,钝化温度为800‑1200℃。通过制作触头的过程中,在基板的表面形成两层钝化层,使得半导体材料的表面以及触头位置都不易受到腐蚀,大大提高了基板以及触头的性能,从而让半导体器件使用的稳定性较好。