一种非易失性存储阵列的软错误检测方法及装置
基本信息
| 申请号 | CN202111079679.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113791737A | 公开（公告）日 | 2021-12-14 |
| 申请公布号 | CN113791737A | 申请公布日 | 2021-12-14 |
| 分类号 | G06F3/06（2006.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 王碧;王昭昊;赵巍胜;赵元富;王亮;陈雷 | 申请（专利权）人 | 北京微电子技术研究所 |
| 代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人 | 周永君;叶明川 |
| 地址 | 100191北京市海淀区学院路37号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种非易失性存储阵列的软错误检测方法及装置，所述方法包括：获取第一存储单元的存储状态和对应的第二存储单元的存储状态；若判断获知所述第一存储单元的存储状态与对应的第二存储单元的存储状态相同，则终止读取操作；其中，所述第一存储单元与对应的第二存储单元是物理隔离的。所述装置用于执行上述方法。本发明实施例提供的非易失性存储阵列的软错误检测方法及装置，避免读取错误数据，提高了非易失性存储阵列的可靠性。 |
