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基于去斜处理的高分辨率SAR变重频均匀化重采样方法

基本信息

申请号 CN202010574643.2 申请日 -
公开（公告）号 CN111665506B 公开（公告）日 2022-07-05
申请公布号 CN111665506B 申请公布日 2022-07-05
分类号 G01S13/90（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 杨娟娟;贺荣荣;高阳;冯帆;党红杏;王万林 申请（专利权）人 西安空间无线电技术研究所
代理机构 中国航天科技专利中心 代理人 -
地址 710100陕西省西安市长安区西街150号
法律状态 -

摘要

摘要 一种基于去斜处理的高分辨率SAR变重频均匀化重采样方法，基于大转角波束旋转扫描回波数据的多普勒模糊特性和分段变重频分段均匀采样的特性，提出对各均匀采样段数据做波束中心旋转多普勒调频率去斜处理，再在距离频域进行带内多普勒变化校正，得到满足耐奎斯特采样定律的基带均匀采样数据段，然后采用sinc插值算法将均匀采样段数据插值到全数据均匀化采样时间上，来完成均匀化重采样处理。本发明方法用于大转角星载高分辨率分段变重频聚束模式、滑动聚束模式、TOPSAR模式和Mosaic模式，具有效率高、精度高、稳健且实用性强的特点。