一种存储卡测试组件
基本信息
| 申请号 | CN202022699389.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN214377682U | 公开（公告）日 | 2021-10-08 |
| 申请公布号 | CN214377682U | 申请公布日 | 2021-10-08 |
| 分类号 | G11C29/56（2006.01）I | 分类 | 信息存储; |
| 发明人 | 燕祖德;李光裕;王平;李志雄;李小强 | 申请（专利权）人 | 深圳市江波龙电子股份有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市威世博知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 瞿璨 |
| 地址 | 518057广东省深圳市南山区科发路8号金融服务技术创新基地1栋8楼A、B、C、D、E、F1 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请公开了一种存储卡测试组件，包括第一绝缘件和至少两个第一探针，至少两个第一探针贯穿第一绝缘件，第一探针包括相对的第一端和第二端，第一端和第二端分别位于第一绝缘件相对的两侧面，至少两个第一探针的第一端分别用于与待测存储卡的金属触片可弹性接触，至少两个第一探针的第二端分别用于与电路板电连接。本申请存储卡测试组件能够便于多个第一探针组装以及更换，减小了成本。 |
