集成电路测试座及集成电路测试装置
基本信息
| 申请号 | CN202023275487.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN214375125U | 公开（公告）日 | 2021-10-08 |
| 申请公布号 | CN214375125U | 申请公布日 | 2021-10-08 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 程振;李志雄;刘旭;王平;燕祖德 | 申请（专利权）人 | 深圳市江波龙电子股份有限公司 |
| 代理机构 | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 | 代理人 | 袁哲 |
| 地址 | 518000广东省深圳市南山区科发路8号金融服务技术创新基地1栋8楼A、B、C、D、E、F1 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请属于集成电路测试技术领域，尤其涉及一种集成电路测试座及集成电路测试装置。该集成电路测试座中，基座的通孔内设有导电组件，柔性板设于基座上并覆盖通孔，柔性板具有与集成电路封装件接点对应的导电体，柔性板的导电体与导电组件的弹性导电件一一对应地电性接触。在测试时，将集成电路封装件的接点与导电体对应电性接触，并将弹性导电件与测试板的接点对应电性接触。柔性板对导电组件起到保护作用，隔绝了集成电路封装件接点及其它可能会带来污染的物质对弹性导电件的侵蚀，提升弹性导电件的寿命。该集成电路测试座兼具测试寿命长，测试频率高，对集成电路封装件接点伤害小，可完全替代弹簧顶针进行测试。 |
