基于FT4222的SPI闪存测试系统及方法
基本信息
| 申请号 | CN201710853972.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN107633867A | 公开（公告）日 | 2018-01-26 |
| 申请公布号 | CN107633867A | 申请公布日 | 2018-01-26 |
| 分类号 | G11C29/56;G11C29/04 | 分类 | 信息存储; |
| 发明人 | 黄欢;施冠良 | 申请（专利权）人 | 南京扬贺扬微电子科技有限公司 |
| 代理机构 | 江苏圣典律师事务所 | 代理人 | 南京扬贺扬微电子科技有限公司 |
| 地址 | 210000 江苏省南京市浦口区桥林街道步月路29号12栋-80 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开一种基于FT4222的SPI闪存测试系统及方法，该测试方法根据测试人员输入的测试语句，调用调试工具中的FT4222芯片设备，针对不同参数的SPI NAND Flash模块配置测试条件，最后将测试语句载入到FT4222芯片模块对所述SPI NAND Flash模块进行测试。该测试方法可以测试简单的SPI NAND Flash的读、写、擦除、BurnIn test(稳定性测试)，同时还可通过修改测试软件程序代码，达到一些特殊的测试目的。 |
