首页/ 北京天路时代电气设备有限责任公司/ 专利详情

电路板的老化测试装置

基本信息

申请号 CN201520589082.8 申请日 -
公开（公告）号 CN204989408U 公开（公告）日 2016-01-20
申请公布号 CN204989408U 申请公布日 2016-01-20
分类号 G01R31/28(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 张宝余;李建路;成艳霞;王丽艳;骆力;李阳 申请（专利权）人 北京天路时代电气设备有限责任公司
代理机构 北京智汇东方知识产权代理事务所（普通合伙） 代理人 薛峰;刘长江
地址 100040 北京市丰台区三顷地甲3号4号楼三层
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型提供了一种电路板的老化测试装置。该电路板的老化装置包括：底座；支撑架，从底座竖直向上延伸；多个电路板放置架，分别间隔设置于支撑架上，每个电路板放置架包括竖直设置且与支撑架固定的挡板，以及从挡板的底部水平外延伸的用于放置被测试的电路板的搁板；多排线槽，每排线槽与一个电路板放置架对应设置；以及容纳于线槽中的多根线缆，每根线缆的末端穿出线槽并延伸至线槽对应设置的电路板放置架的搁板上，以向搁板上放置的被测试的电路板供电和/或提供信号。本实用新型提供的电路板的老化测试装置实现了对电路板进行批量通电老化，结构简单紧凑，安全系数高，使用方便。