一种动态随机存储器的测试方法及存储介质
基本信息
| 申请号 | CN202111609610.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114446374A | 公开（公告）日 | 2022-05-06 |
| 申请公布号 | CN114446374A | 申请公布日 | 2022-05-06 |
| 分类号 | G11C29/32（2006.01）I;G11C29/44（2006.01）I | 分类 | 信息存储; |
| 发明人 | 刘孜 | 申请（专利权）人 | 深圳市晶存科技有限公司 |
| 代理机构 | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 | 代理人 | 俞梁清 |
| 地址 | 518048广东省深圳市福田区福保街道福保社区桃花路1-3号达升大楼2层FB区 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种动态随机存储器的测试方法及存储介质，该方法包括将动态随机存储器的存储空间划分成至少两个测试单元；获取用于测试的多个背景数据；对于每个背景数据，将背景数据写入动态随机存储器的存储空间后，按照测试单元的地址顺序，根据背景数据取反后依次对每个测试单元进行编程校验，并在编程校验出错的情况下记录当前测试单元的出错信息，立即结束测试方法，或者，直到遍历完全部背景数据后结束测试方法。通过本发明公开的方法，通过不断修改背景数据，让其相邻测试单元的数据都不相同，加大测试强度，提供故障覆盖率。能有效筛选出存储单元出现比特位翻转的颗粒，降低实际场景下老化或者长期使用后的存储器的不良率。 |
