一种ODT校准方法、计算机设备及存储介质专利查询专利号|摘要-满商公司网

一种ODT校准方法、计算机设备及存储介质

基本信息

申请号	CN202111626079.5	申请日	-
公开（公告）号	CN114420195A	公开（公告）日	2022-04-29
申请公布号	CN114420195A	申请公布日	2022-04-29
分类号	G11C29/56（2006.01）I	分类	信息存储;
发明人	刘孜	申请（专利权）人	深圳市晶存科技有限公司
代理机构	广州嘉权专利商标事务所有限公司	代理人	俞梁清
地址	518048广东省深圳市福田区福保街道福保社区桃花路1-3号达升大楼2层FB区
法律状态	-

摘要

本发明公开了一种ODT校准方法、计算机设备及存储介质，该方法包括：获取初始阻值和总校准次数；获取当前校准次数；根据初始阻值与当前校准次数确定ODT的目标阻值；根据目标阻值进行Training动作，并记录与目标阻值对应的运行指标；当当前校准次数大于所述总校准次数，根据运行指标从多个目标阻值中选出最终阻值作为ODT的校准后阻值。本发明提供的方法，通过动态调节ODT值实现自动校准ODT，能够自动调节存储器所需的ODT值。相较固定ODT值而言，ODT自动校准能有效解决芯片一致性差问题，不同内存芯片在同一SoC系统上，和同一内存芯片在不同SoC系统上的适配和兼容性问题，也可改善因ODT值设置不对导致的机器死机问题，减少开发人员调试时间。