芯片测试方法、验证系统及存储介质
基本信息
| 申请号 | CN201911298175.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN111045880A | 公开（公告）日 | 2020-04-21 |
| 申请公布号 | CN111045880A | 申请公布日 | 2020-04-21 |
| 分类号 | G06F11/22 | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 夏一民;徐雪刚;罗恒;刘蓬侠;王磊;龚国辉;张晓明 | 申请（专利权）人 | 湖南长城银河科技有限公司 |
| 代理机构 | 长沙正奇专利事务所有限责任公司 | 代理人 | 湖南长城银河科技有限公司 |
| 地址 | 410205 湖南省长沙市长沙高新开发区尖山路39号长沙中电软件园总部大楼裙楼2-8、2-13室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种芯片测试方法、验证系统及存储介质，该方法的测试程序内含若干个用例模板和一个测试控制器，能在测试过程中动态产生测试用例，使得测试程序的每次执行，都能实现多轮测试，从而提高了测试效率，其中用例模板是由一系列待测试指令、该指令执行条件、操作数取值范围组成的序列，测试控制器是用例模板的选取规则、用例生成规则和测试终止条件组成，它在测试过程中，根据用例模板的内容，不断产生新的测试用例并实施测试，直到测试终止条件被完全满足，测试终止。 |
