一种适用于升温内阻法测闭孔温度及破膜温度的容器装置
基本信息
| 申请号 | CN202122181944.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN215641734U | 公开（公告）日 | 2022-01-25 |
| 申请公布号 | CN215641734U | 申请公布日 | 2022-01-25 |
| 分类号 | G01R31/389（2019.01）I;H01M50/40（2021.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 庄志;李昀泽;鲍晋珍;王迎利;李晓晨;王长宗;史新宇;周泉清;冶成良;程跃 | 申请（专利权）人 | 上海恩捷新材料科技有限公司 |
| 代理机构 | 上海远同律师事务所 | 代理人 | 张坚 |
| 地址 | 201306上海市浦东新区南芦公路155号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型提供一种适用于升温内阻法测闭孔温度及破膜温度的容器装置，该装置不需要使用密封圈对隔膜进行固定，依靠装置部件本身的重力作用固定待测隔膜，待测隔膜边缘收力较小，且使用该装置进行测试时隔膜两侧充满电解液，能保证隔膜的浸润性，从而保证测试数据的准确性与稳定性，且该装置在测试时线路连接简单，使用方便，也更容易进行清洁工作。 |
